用于磁力计的校准系统和方法
基本信息
| 申请号 | CN202010753611.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112834973A | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN112834973A | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01R35/00;G01R33/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王帆;卓彦;杨思嘉;吴顺子 | 申请（专利权）人 | 中科知影（北京）科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王冉 |
| 地址 | 100080 北京市海淀区海淀西大街70号三层301室067号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种用于磁力计的校准系统和方法、磁探测系统和方法、磁力计支架。所述校准系统包括：磁力计，配置为测量待测磁场；磁力计支架，所述磁力计固定安装在所述磁力计支架上，以使所述磁力计的空间位置和取向已知；至少一个磁场发生装置，相对于所述磁力计的位置固定，用于在所述待测空间中产生校准磁场分布；以及计算装置，所述计算装置配置成根据所述至少一个磁场发生装置在所述待测空间内产生的校准磁场分布计算在磁力计所处位置处的磁场矢量大小，从所述磁力计接收所述磁力计测得的磁场矢量大小，以及基于所述计算获得的磁场矢量大小和测得的磁场矢量大小计算所述磁力计的探测增益值。 |
