全内反射检测基因芯片杂交结果的方法

基本信息

申请号 CN202110541260.X 申请日 -
公开(公告)号 CN112964688A 公开(公告)日 2021-06-15
申请公布号 CN112964688A 申请公布日 2021-06-15
分类号 G01N21/64;G01N21/01 分类 测量;测试;
发明人 华子昂;刘宝全;竹添;朱美瑛;万君兴;张建;李娜 申请(专利权)人 北京百奥纳芯生物科技有限公司
代理机构 北京国谦专利代理事务所(普通合伙) 代理人 肖应国
地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路25号10号楼104单元2层2119室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种全内反射检测基因芯片杂交结果的方法,包括:构造基因芯片检测仪,利用石英玻璃板(2)将基因芯片检测仪的暗箱(1)分为光源暗箱(3)与成像暗箱(16);在石英玻璃板(2)上添加与石英玻璃的折射率相同的等折射率溶液(9);将基因芯片的石英玻璃基片放置在等折射率溶液(9)上;调整面平行光光源发生器(6)的位置和角度,使得发出的面平行光形成全内反射;全内反射的隐失波(11)激发基因芯片的探针(12)上的荧光物质发出标记荧光(13);标记荧光(13)被高分辨率相机(15)捕获,最终获得检测结果。本发明的方法避免了荧光成像过程中的背景干扰,提高了基因芯片杂交结果的信噪比和检测灵敏度。