用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN202111241894.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113866611A | 公开（公告）日 | 2021-12-31 |
| 申请公布号 | CN113866611A | 申请公布日 | 2021-12-31 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 范松;马维超;易峰;刘律辑 | 申请（专利权）人 | 湖南进芯电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 长沙轩荣专利代理有限公司 | 代理人 | 丛诗洋 |
| 地址 | 410000湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法，包括：步骤1，在PC上设定上下电测试条件，其中，上下电测试信息包括电源域数量、各电源域电压、额定电流、各DSP芯片的上下电顺序和上下电测试次数；步骤2，PC通过RS232接口给可编程电源发送控制信号，可编程电源根据控制信号分别给HTOL底板的各个通道提供电压。本发明通过PC可以对测试系统上下电测试次数、上电成功次数和上电失败次数等进行监测，通用性强，对于不同电源域，不同上电顺序的DSP芯片，只需在PC上修改上下电测试条件，节约成本，可以在常温、低温和高温检测测试系统是否存在异常情况。 |
