一种存储芯片简易测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202020118485.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211016549U | 公开（公告）日 | 2020-07-14 |
| 申请公布号 | CN211016549U | 申请公布日 | 2020-07-14 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 丛维;金生 | 申请（专利权）人 | 上海优村科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路570号1001B室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种存储芯片简易测试装置，属于存储芯片技术领域，其包括壳体，所述壳体内壁的下表面固定连接有电动推杆，所述电动推杆的顶端固定连接有底座，所述底座的左右两侧面均固定连接有第一滑块，所述第一滑块滑动连接在第一滑槽内。该存储芯片简易测试装置，通过设置夹板，伸缩杆、弹簧和主机，工作人员控制电动推杆工作，使得电动推杆带动底座向下运动，使得底座通过主机和接口带动存储芯片向下运动，使得存储芯片从通孔内移出，工作人员向右拉动夹板，使得伸缩杆和弹簧收缩，工作人员向上拉动主机，使得主机带动定位块从定位槽内移出，操作简单，使得工作人员可以较为轻松的对检测设备进行拆卸并维护。 |
