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一种三维扫描测距装置及方法

基本信息

申请号 CN202011474521.2 申请日 -
公开（公告）号 CN112504126A 公开（公告）日 2021-03-16
申请公布号 CN112504126A 申请公布日 2021-03-16
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B11/22(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 刘敬伟;李文玲;韦钟辉 申请（专利权）人 国科光芯（海宁）科技股份有限公司
代理机构 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 代理人 李静玉
地址 314400浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区漕河泾路17号4幢
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种三维扫描测距装置及方法，该装置包括：光扫描芯片、聚焦透镜、光接收元件及微处理器，光扫描芯片用于依次扫描输出多个角度的一字线光斑至待测物体上；聚焦透镜用于将待测物体在多个一字线光斑照射下反射的多个光束依次进行聚焦；光接收元件用于依次接收聚焦透镜聚焦后的多个光束，得到多幅包含亮斑的图像；微处理器，用于根据不同扫描角度及不同行像素下亮斑与待测物体深度之间的第一关系对多幅包含亮斑的图像进行解析，得到待测物体的三维点云。通过实施本发明，采用光扫描芯片进行一字线光斑的扫描及光接收元件中光斑的解析，省去了机械旋转扫描部件，实现了三维固态激光雷达的功能，在近距离测距中得到了较好的测距精度。