高质量碳化硅籽晶、碳化硅晶体、碳化硅衬底及其制备方法

基本信息

申请号 CN202110484326.6 申请日 -
公开(公告)号 CN113186601A 公开(公告)日 2021-07-30
申请公布号 CN113186601A 申请公布日 2021-07-30
分类号 C30B29/36;C30B23/02 分类 晶体生长〔3〕;
发明人 彭同华;王波;赵宁;娄艳芳;郭钰;张贺;刘春俊;杨建 申请(专利权)人 江苏天科合达半导体有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 豆贝贝
地址 102600 北京市大兴区中关村科技园区大兴生物医药产业基地天荣大街9号2幢301室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种高质量碳化硅籽晶、碳化硅晶体、碳化硅衬底及其制备方法。本发明制备高质量的碳化硅籽晶,并控制碳化硅粉料、石墨坩埚及保温材料的杂质浓度,结合一定的晶体生长工艺以及晶片加工方式,得到了高质量的碳化硅衬底。所得碳化硅衬底具有高的结晶质量,极低的微管数量、螺位错密度和复合位错密度;同时具有极低的p型杂质浓度,表现出优良的电学性能;还具有高的表面质量。