一种X射线荧光分析仪
基本信息
| 申请号 | CN96203532.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN2237241Y | 公开（公告）日 | 1996-10-09 |
| 申请公布号 | CN2237241Y | 申请公布日 | 1996-10-09 |
| 分类号 | G01N23/223 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 颜一鸣;丁训良;赫业军 | 申请（专利权）人 | 中国航天工业总公司 |
| 代理机构 | 航空航天工业部航天专利事务所 | 代理人 | 中国航天工业总公司;北京师范大学 |
| 地址 | 100830北京市海淀区阜成路八号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种用于测定试样中元素含量及在试样表面的分布的X射线荧光分析仪由X光源、样品、探测器、放大器和计算机多道分析器等组成，其特点在于：在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜，该透镜为一个单一的、没有支撑部件的多孔玻璃固体，内有多个从所述固体一端贯通到另一端的X光导孔，且该玻璃固体由上述X光导孔壁自身熔合而成，本实用新型的分析灵敏度高、探测极限低、功率密度大，并可用于微区分析，且结构简单、造价低。 |
