用于透明或半透明材料曲面的测量系统
基本信息
| 申请号 | CN201880098407.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112840175A | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN112840175A | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01B11/00;G01N21/95 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 向贤毅;吴明军 | 申请（专利权）人 | 成都频泰鼎丰企业管理中心（有限合伙） |
| 代理机构 | 北京锺维联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵中璋 |
| 地址 | 610015 四川省成都市高新区吉泰五路88号3幢28层7号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统（1），包括：表面处理装置（10）、三维测量装置（20）和第二传送装置；表面处理装置（10）用于对透明或半透明材料的表面进行霜化或雾化，形成霜化或雾化表面，即在透明或半透明材料的表面形成均匀的霜或雾；三维测量装置（20）用于对霜化或雾化后的透明或半透明材料的表面进行三维测量，从而获取测量数据；第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到三维测量装置（20）。 |
