一种晶片长度测量装置
基本信息
| 申请号 | CN201521026662.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205209435U | 公开（公告）日 | 2016-05-04 |
| 申请公布号 | CN205209435U | 申请公布日 | 2016-05-04 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 许春杰;谢保卫 | 申请（专利权）人 | 江苏润丽光能科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 苏州市方略专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 马广旭 |
| 地址 | 221000 江苏省徐州市沛屯大道西侧能源开发区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种晶片长度测量装置，包括底座，底座上设有支撑杆，支撑杆的端部之间设有导向杆，导向杆套装有滑块，滑块设有滑板，导向杆的下方设有载物台，底座上设有长度测试仪，滑板的对内朝向面设有红外测距头，红外测距头与长度测试仪通过对接线连接。本实用新型方便对滑板进行调节，滑板方便对晶片进行装夹，通过红外测距头可以方便对晶片的长度进行检测，检测效率大大提高。 |
