一种晶片强度检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201521026876.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205209888U | 公开（公告）日 | 2016-05-04 |
| 申请公布号 | CN205209888U | 申请公布日 | 2016-05-04 |
| 分类号 | G01N3/08(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 许春杰;谢保卫 | 申请（专利权）人 | 江苏润丽光能科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 苏州市方略专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 马广旭 |
| 地址 | 221000 江苏省徐州市沛屯大道西侧能源开发区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种晶片强度检测装置，包括检测台，检测台设有检测槽；检测台设有支撑杆，支撑杆的端部设有限位板，限位板的下方设有锁片，限位板之间设有扣杆，导向管内套装有压管，导向管的下端设有旋管，旋管与压管通过螺纹连接，压管的下端设有压头，检测台上设有压力传感片，压力传感片设置在锁片的下方，压力传感片与压力检测器连接。本实用新型方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。 |
