超结器件
基本信息
申请号 | CN201610664915.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN106229343A | 公开(公告)日 | 2016-12-14 |
申请公布号 | CN106229343A | 申请公布日 | 2016-12-14 |
分类号 | H01L29/423(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 曾大杰 | 申请(专利权)人 | 上海鼎阳通半导体科技有限公司 |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海鼎阳通半导体科技有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦东新区自由贸易试验区蔡伦路1690号3幢412室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种超结器件,包括:相互隔开的栅极结构一和栅极结构二;栅极结构一包括栅介质层一和电极材料一,栅极结构二包括栅介质层二和电极材料二;电极材料一连接到栅极;电极材料二连接到源极;栅极结构一形成沟道一的阈值电压一大于栅极结构二形成沟道二的阈值电压二;超结器件正向导通时,栅极所加的电压大于阈值电压一,沟道一导通,沟道二截止,寄生体二极管截止;超结器件反向导通时,栅极所加的电压小于阈值电压一,沟道一截止,寄生体二极管正向导通,阈值电压二要求小于寄生体二极管的正向导通压降,沟道二导通,通过沟道二导通减少N型柱表面区域的空穴浓度,从而降低超结器件的最大反向恢复电流。 |
