一种芯片测试方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202011508032.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112684321A | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN112684321A | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 金罗军;吴臻志 | 申请（专利权）人 | 无锡灵汐类脑科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京麦宝利知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 赵艳红 |
| 地址 | 214000江苏省无锡市新吴区净慧东道78号中电海康无锡物联网产业基地会议中心202-03 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试方法及装置。所述芯片测试方法，包括：通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比；根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果。本发明在没有处理功能对应的引脚的情况下，快速便捷的测试该芯片自带的各个处理功能，并可根据测试结果直接定位出现故障的处理功能。 |
