一种铸造单晶硅的前处理方法
基本信息
申请号 | CN202011146517.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114497269A | 公开(公告)日 | 2022-05-13 |
申请公布号 | CN114497269A | 申请公布日 | 2022-05-13 |
分类号 | H01L31/18(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 许志 | 申请(专利权)人 | 福建新峰二维材料科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 362000福建省泉州市台商投资区东园镇东经2路办公路 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种铸造单晶硅的前处理方法,其特征在于,包括以下步骤:使用砂浆线切割设备将铸造单晶硅锭切割成铸造单晶硅片;利用酸性溶液清洗去除铸造单晶硅片表面的油污、金属颗粒以及其他杂质;在硅片表面沉积一层磷硅玻璃层,并进行退火处理;将处理后的硅片用溶剂去除表面反应层和吸附的杂质。 |
