ITO的完整蚀刻方法及LED芯片制作方法
基本信息
申请号 | CN201410517689.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN104347772B | 公开(公告)日 | 2017-06-20 |
申请公布号 | CN104347772B | 申请公布日 | 2017-06-20 |
分类号 | H01L33/36(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 吴伟东;高俊民;成涛;王占伟;于海莲 | 申请(专利权)人 | 山东成林光电技术有限责任公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 257091 山东省东营市东城东四路与北二路交叉口向南100米路西 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 公开了一种 ITO的完整蚀刻方法,包括步骤:对蒸镀在形成台阶的P‑GaN层和N‑GaN层表面的ITO层进行第一次蚀刻,从而将没有光刻胶覆盖的N‑GaN层正表面的ITO层去除,并同时在P‑GaN层和N‑GaN层之间的过渡区域蚀刻表面形成生成物;使用TMAH溶液对一次蚀刻中形成在P‑GaN层和N‑GaN层之间的过渡区域蚀刻表面的生成物去除;对经过一次TMAH后的P‑GaN层和N‑GaN层表面的ITO层进行第二次蚀刻,从而将残留在P‑GaN层和N‑GaN层之间的过渡区域蚀刻表面的ITO层去除,并在P‑GaN层和N‑GaN层之间的过渡区域蚀刻表面形成生成物;以及使用TMAH溶液对二次蚀刻中形成在P‑GaN层和N‑GaN层之间的过渡区域蚀刻表面的生成物去除。 |
