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薄层顶底界面反射系数的反演方法及装置

基本信息

申请号 CN201910958234.X 申请日 -
公开（公告）号 CN110764145A 公开（公告）日 2020-02-07
申请公布号 CN110764145A 申请公布日 2020-02-07
分类号 G01V1/30 分类 测量；测试;
发明人 赵伟;韩必武;王赟;陶磊 申请（专利权）人 北京多分量地震技术研究院
代理机构 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 代理人 淮南矿业（集团）有限责任公司;北京多分量地震技术研究院
地址 232000 安徽省淮南市田家庵区洞山
法律状态 -

摘要

摘要 本说明书一个或多个实施例公开了一种薄层顶底界面反射系数的反演方法及装置，用以实现薄层顶底界面反射系数的定量预测。所述方法包括：基于单薄层模型，确定P波垂直入射时的薄层反射系数能谱；其中，所述薄层反射系数能谱与薄层顶底界面的反射系数相关；根据所述薄层反射系数能谱，确定所述薄层的时间厚度；根据所述薄层的时间厚度以及所述薄层反射系数能谱和所述薄层顶底界面的反射系数之间的关系，计算所述薄层顶底界面的反射系数。该技术方案实现了薄层顶底界面反射系数的反演，且计算过程简便快捷。