非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202020884584.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212032656U | 公开（公告）日 | 2020-11-27 |
| 申请公布号 | CN212032656U | 申请公布日 | 2020-11-27 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 郑彦磊;朱笑鶤 | 申请（专利权）人 | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海欣创专利商标事务所 | 代理人 | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号105室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，该装置其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：所述控温系统包括高温箱和低温箱。本实用新型通过设计一种中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统相互集成的装置，降低NVM产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。 |
