射频电路产品老化测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202020875160.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212301764U | 公开（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申请公布号 | CN212301764U | 申请公布日 | 2021-01-05 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 朱笑鶤;郑彦磊 | 申请（专利权）人 | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海欣创专利商标事务所 | 代理人 | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号105室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种射频电路产品老化测试装置，其包括：可调电源系统、射频信号系统、软件监控系统、散热系统以及显示控制系统；可调电源系统，所述可调电源系统提供稳定可调节的电源，可调电源系统分别与所述一级功率放大模块和所述二级功率放大模块连接；射频信号系统，所述射频信号提供射频信号输出；软件监控系统，所述软件监控系统与所述二级功率放大模块连接，所述软件监控系统进行实时的软件监控；散热系统，所述散热系统以及显示系统之间相互电耦接；显示系统，所述显示控制系统对全装置进行实时的操控。本实用新型通过多系统集成优化设计提供一种支持多路大输出功率射频信号成熟的老化寿命试验技术的测试装置。 |
