一种载盘内芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022543703.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213780279U | 公开（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申请公布号 | CN213780279U | 申请公布日 | 2021-07-23 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王体;李辉;李俊强 | 申请（专利权）人 | 深圳市诺泰芯装备有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市中联专利代理有限公司 | 代理人 | 李俊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区沙井街道和一社区沙井万丰华丰创业园厂房1栋四层D座南侧 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种载盘内芯片测试装置，包括一个安装支撑底座，所述安装支撑底座的上表面固定安装有一个安装平台机构，本实用新型的有益效果是：通过对测试机构的结构合理布置，能够特定环境下，对载盘和芯片进行精准定位后在测试，实现了一种用载盘将产品输送进特定环境后，在特定环境状态下，首先对装芯片的载盘精准定位，然后对载盘内的芯片定位，最后对芯片进行电性测试，以检测电子元器件性能的装置，同时通过载盘和芯片的高速精准定位方法，以及电性测试机构对芯片触点进行高速精确接触测试，通过实施本发明，能够在特定环境状态下，实现了测试检测环境误差较小，电子元件测试性能参数误差小，节省人力，提高了生产效率。 |
