一种检测印刷材料表面瑕疵的光学结构

基本信息

申请号 CN201720342040.3 申请日 -
公开(公告)号 CN206594077U 公开(公告)日 2017-10-27
申请公布号 CN206594077U 申请公布日 2017-10-27
分类号 G01N21/88(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 张一清;臧侃 申请(专利权)人 杭州数创自动化控制技术有限公司
代理机构 杭州奥创知识产权代理有限公司 代理人 杭州数创自动化控制技术有限公司
地址 311112 浙江省杭州市莫干山路1418-40号1303室(上城科技工业基地)
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种检测印刷材料表面瑕疵的光学结构,包括高反光源、漫反光源、透射光源;高反光源前设置有散射板,高反光源与被检测材料法线夹角为∠A,高反光源用于检测具有高反射特性的材料;漫反光源与被检测材料法线夹角为∠B,漫反光源用于检测具有漫反射特性上印刷质量的检测;所述透射光源即为底光源,所述透射光源前设置有散射板,透射光源与被检测材料法线夹角为∠C,透射光源用于检测被检材料上的透明区域;所述夹角∠A、夹角∠B、夹角∠C之间的度数均不相同。本实用新无需使用机械方式及复杂的操作即可以对混合型反射率的材料成像检测,也无需通过改变光学结构来适应不同的反射率材料,拓宽了使用的范围。