一种磁光克尔仪及其设计方法
基本信息
| 申请号 | CN98121930.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1213084A | 公开（公告）日 | 1999-04-07 |
| 申请公布号 | CN1213084A | 申请公布日 | 1999-04-07 |
| 分类号 | G01R33/032 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈良尧;郑玉祥;张荣君;夏国强;陈岳立;赵海斌;杨月梅 | 申请（专利权）人 | 上海复旦安正光子网络有限公司 |
| 代理机构 | 复旦大学专利事务所 | 代理人 | 姚静芳 |
| 地址 | 200433上海市邯郸路220号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单只探测器,只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微区进行高密度的数据扫描测量,则测量的效率较低,不易实用。本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器,通过旋转检偏器,在不同检偏角位置连续获得完整的CCD信号,并通过快速富利埃分析,不仅可获得宏区的克尔效应,而且可获得高分辨率的微区分布的克尔效应,形成凝视式磁光克尔图象。采用本发明制造的凝视式磁光克尔仪,可提高效率5千至5万倍,并快速、准确获得各种磁结构。 |
