一种半导体功率器件及其制作方法
基本信息
申请号 | CN201810150695.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN108336130B | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
申请公布号 | CN108336130B | 申请公布日 | 2021-08-24 |
分类号 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L23/00(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 储团结;王海韵;丛艳欣;李亚娜 | 申请(专利权)人 | 天津中科先进技术产业有限公司 |
代理机构 | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙涛 |
地址 | 300392天津市滨海新区高新区华苑产业区(环外)海泰发展六道3号星企一号创新工场研发中心301 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种半导体功率器件及其制作方法,涉及半导体集成电路技术领域,包括:N型衬底、N+区、P‑体区、PN交替超结区、N+源区、栅极氧化层、多晶硅栅极、介质层隔离、器件源极金属和器件漏极金属。其中,PN交替超结区由P+层与N+层纵向间隔交替排列,且N+区中央区的同侧的每相邻两个N+源区之间的P‑体区的侧面设置有第一N+层和第二N+层;以及N+区的中央区与侧边区之间设置有第三N+层。该技术方案缓解了现有技术存在的结构可靠性差的技术问题,保证了器件导通性能,提高了半导体功率器件的纵向变形的承受强度,增加了半导体功率器件的弯曲程度耐受能力,使其在承受机械变形时免遭破坏,提高了器件结构的可靠性,且制作工艺简单,制作成本低。 |
