一种测量材料残余应力变化的装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN200710051260.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN100554955C | 公开（公告）日 | 2009-10-28 |
| 申请公布号 | CN100554955C | 申请公布日 | 2009-10-28 |
| 分类号 | G01N27/72(2006.01)I;G01L1/12(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王明道;王自成;袁金磊 | 申请（专利权）人 | 武汉晶泰科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京市德权律师事务所 | 代理人 | 李维真 |
| 地址 | 430058湖北省武汉市武汉经济技术开发区高科技园20号楼3层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种测量材料残余应力变化的装置及方法，特征在于：通过磁致伸缩测量铁磁材料的残余应力变化。包括测量系统和数据处理方法两部分。测量系统包括产生磁场的设备，测量和记录磁致伸缩的设备两部分组成。测量和记录磁致伸缩的设备包括电阻应变片，动态应变仪和计算机采集系统。数据处理方法是将初始磁致伸缩平均值和终了磁致伸缩平均值用一个公式处理，得到残余应力变化情况。解决了现有技术中降低、控制及测量残余应力的难题。本发明具有快捷、高效、不引起材料变形等特点。 |
