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一种集成电路测试装置

基本信息

申请号	CN201920604669.X	申请日	-
公开（公告）号	CN210465604U	公开（公告）日	2020-05-05
申请公布号	CN210465604U	申请公布日	2020-05-05
分类号	G01R31/28	分类	测量；测试;
发明人	栾海林;吴松青	申请（专利权）人	南京奥敏传感技术有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	211800 江苏省南京市浦口区浦东北路5号总部商务广场15幢701室
法律状态	-

摘要

本实用新型属于集成电路测试技术领域，公开了一种集成电路测试装置，包括底座、滑槽、第一测试用PCB、放置板、集成电路、和测试装置，所述滑槽开设在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB设置在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB固定连接于所述底座，方便所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB的滑动，利用所述滑动块在所述滑槽中的滑动，所述第一移动座和所述第二移动座可以带动所述第二测试用PCB和所述第三测试用PC分别向外侧移动，从而可以改变所述第一测试用PCB、所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB之间的空间大小，方便使用者对不同的所述集成电路进行测试，降低了集成电路测试的成本，从而减轻了相关测试企业资金负担。