探针及集成电路测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202122307831.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216411367U | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN216411367U | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G01R1/067（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 段超毅;蒋伟;周闯 | 申请（专利权）人 | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 苗广冬 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提出一种探针及集成电路测试设备，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段，连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于接触测试IC，所述第二接触段下端用于接触测试PCB；所述第一接触段、所述连接段、所述第二接触段一体化设置，所述第一接触段形成有接触斜面，所述接触斜面由上至下朝内倾斜设置，所述接触斜面用于与所述测试IC的锡球接触，所述第二接触段可在竖直方向上发生弹性形变。如此，本实用新型解决了现有技术中阻抗较大，各探针之间阻抗较大、一致较差等问题。 |
