探针及集成电路测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202122292198.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216411479U | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN216411479U | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/067（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 段超毅;蒋伟;周闯 | 申请（专利权）人 | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张小容 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提出一种探针及集成电路测试设备，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段、连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于连接测试IC，所述第二接触段下端用于连接测试PCB；所述探针为弹性件，且所述探针具有初始位置和形变位置；其中，所述第二接触段或者所述连接段呈C形件设置，所述C形件缺口处设置有第一自由端和第二自由端，当所述探针处于初始位置时，所述第一自由端和所述第二自由端存在间隙；当所述探针处于形变位置时，所述第一自由端和所述第二自由端接触。如此，本实用新型解决了现有技术中，集成电路测试用探针存在阻抗较大的问题。 |
