商标进度
商标申请
2010-06-30
初审公告
2011-07-06
已注册
2011-10-07
4
终止
2031-10-06
商标详情
| 商标 |
H
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| 商标名称 | HI-TEST | 商标状态 | 商标已注册 |
| 申请日期 | 2010-06-30 | 申请/注册号 | 8439929 |
| 国际分类 | 07类-机械设备 | 是否共有商标 | 否 |
| 申请人名称（中文） | 深圳市华腾半导体设备有限公司 | 申请人名称（英文） | - |
| 申请人地址（中文） | 广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道1201号平山工业区17栋109号2层2号房 | 申请人地址（英文） | - |
| 商标类型 | 变更商标申请人/注册人名义/地址---申请收文 | 商标形式 | - |
| 初审公告期号 | 1270 | 初审公告日期 | 2011-07-06 |
| 注册公告期号 | 8439929 | 注册公告日期 | 2011-10-07 |
| 优先权日期 | - | 代理/办理机构 | 深圳市中恒兴商标代理有限公司 |
| 国际注册日 | - | 后期指定日期 | - |
| 专用权期限 | 2021-10-07-2031-10-06 | ||
| 商标公告 | - | ||
| 商品/服务 |
制灯泡机械(0720)
打包机(0721)
冲床(工业用机器)(0735)
铸造机械(0736)
机床(0742)
电子工业设备(0744)
光学冷加工设备(0745)
分离器(0750)
工业用拣选机(0753)
包装机(0721)
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| 商标流程 |
2011-10-25
商标注册申请---打印注册证
2013-06-19
变更商标申请人/注册人名义/地址---申请收文
2013-06-19
2015-07-17
变更商标申请人/注册人名义/地址---申请收文 |
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