一种测量平面与基准对称度的测具及测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202110006244.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112611304A | 公开（公告）日 | 2021-04-06 |
| 申请公布号 | CN112611304A | 申请公布日 | 2021-04-06 |
| 分类号 | G01B5/25(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄强;王斌;冯永星;魏琛;张磊;冯全全;李敏 | 申请（专利权）人 | 西安西航集团莱特航空制造技术有限公司 |
| 代理机构 | 西安新思维专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 李罡 |
| 地址 | 710021陕西省西安市未央区凤城十二路一号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及航空零件加工技术领域，具体涉及一种测量平面与基准对称度的测具及测量方法。其直接测量平面与基准的对称度，测量精度高，可提高测量效率，避免或减小用其他测量方法带来的测量误差，使测量平面与基准对称度的测量更加精确，检测更加高效。本发明采用的技术方案包括矩形的测具底座，底座左右对称设置有第一L型块和第二L型块，测具底座上部左右对称设置有支撑螺钉一和支撑螺钉二，所述的支撑螺钉一和支撑螺钉二的顶部分别设置有第一压板和第二压板，所述的第一L型块和第二L型块的中间测具底座上设置有导套，支撑螺钉一和支撑螺钉二中间的测具底座上设置有测量块，测量块与导套设置于一条轴线上，并采用一定的测量方法进行测量。 |
