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3D堆叠高宽带存储器多通道并行测试系统及方法

基本信息

申请号 CN202111251233.5 申请日 -
公开（公告）号 CN114171099A 公开（公告）日 2022-03-11
申请公布号 CN114171099A 申请公布日 2022-03-11
分类号 G11C29/14（2006.01）I;G11C29/12（2006.01）I;G11C29/38（2006.01）I 分类 信息存储;
发明人 朱晓锐;邓玉良;赵志伟;殷中云;方晓伟;杨彬;陈剑锋;庄伟坚 申请（专利权）人 深圳市国微电子有限公司
代理机构 深圳市恒申知识产权事务所（普通合伙） 代理人 钟连发
地址 518057广东省深圳市高新技术产业园区高新南一道国微大厦
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种3D堆叠高宽带存储器多通道并行测试系统及方法，测试系统包括：测试器、逻辑芯片和DRAM芯片，其中测试器包括控制模块及干扰测试选择模块，逻辑芯片包括测试信息产生模块、缓存模块、测试信息选择模块和数据比较模块；测试方法包括：控制模块控制测试信息产生模块生成测试信息并传输到缓存模块进行缓存；干扰测试选择模块控制测试信息选择模块选定测试信息并发送到DRAM芯片；数据比较模块将DRAM芯片回传的数据与缓存模块中存储的数据进行对比，并输出对比结果。本发明通过控制信号，对不同的通道组合、不同的命令组合进行选择，实现高覆盖率并行干扰测试。