一种提升p型GaN掺杂浓度的外延结构的制备方法及结构
基本信息
申请号 | CN201910534586.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110246753A | 公开(公告)日 | 2021-07-13 |
申请公布号 | CN110246753A | 申请公布日 | 2021-07-13 |
分类号 | H01L21/02;H01L29/20;H01L29/207 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 李仕强;王东盛;李亦衡;张葶葶;朱廷刚 | 申请(专利权)人 | 江苏能华微电子科技发展有限公司 |
代理机构 | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 王桦 |
地址 | 215600 江苏省苏州市张家港市杨舍镇福新路2号B12幢(能华微电子) | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种提升p型GaN掺杂浓度的外延结构的制备方法,包括在衬底上生长缓冲层,在所述的缓冲层上生长p型GaN层,在生长所述的p型GaN层时,掺入活化剂,所述的活化剂为In和/或Al,所述的活化剂的摩尔流量为10~300umol/min。一种提升p型GaN掺杂浓度的外延结构,其由所述的制备方法制得。本发明在生长p型GaN时引入活化剂,使得在提升p型GaN掺杂浓度的同时又能保证p型GaN的质量不受影响,可以获得掺杂浓度至少为2e18/cm‑3的p型GaN结构。 |
