泄放控制系统、可控硅调光相角检测电路及方法
基本信息
| 申请号 | CN201811535760.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111405708B | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN111405708B | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | H05B45/325（2020.01）I | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
| 发明人 | 刘军;吴泉清;李亮 | 申请（专利权）人 | 华润矽威科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 余明伟 |
| 地址 | 214135 江苏省无锡市无锡太湖国际科技园菱湖大道180号-6 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种泄放控制系统、可控硅调光相角检测电路及方法，包括：母线电压检测模块；产生脉冲宽度调制信号的第一比较模块；产生可控硅调光器导通时间信号的导通时间信号产生模块；对导通时间信号滤波的数字滤波模块；比较数字滤波模块输出电压与泄放阈值电压，以此产生泄放控制信号的第二比较模块。当导通时间信号的直流电压小于泄放阈值电压时，产生泄放电流；当导通时间信号的直流电压大于泄放阈值电压时，关断泄放电流。本发明利用数字滤波器将相角检测电路集成在芯片内部，无需外部电容，节省芯片管脚数量，降低系统成本；同时，将泄放电路集成在芯片内部，简化外围应用线路；且本发明可藉由调光控制信号设定不同相角的调光曲线。 |
