近红外光谱分析仪及其分辨率的校正方法
基本信息
| 申请号 | CN200810162548.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101413884B | 公开（公告）日 | 2010-12-22 |
| 申请公布号 | CN101413884B | 申请公布日 | 2010-12-22 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王健;周新奇;叶华俊;冯红年 | 申请（专利权）人 | 北京聚光世达科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种近红外光谱分析仪分辨率的校正方法，包括以下步骤：a、设定步骤，设定光谱仪的目标分辨率及分辨率公差范围；b、调节和处理步骤，使用光谱仪扫描得到标准光源光谱，调节光谱仪使其分辨率处在分辨率公差范围内；依据目标分辨率处理标准光源的光谱，得到分辨率校正信息并储存，校正信息可将标准光源光谱的分辨率校正至目标分辨率；c、分辨率校正步骤，利用分辨率校正信息处理样本吸收光谱，将样本吸收光谱的分辨率校正到目标分辨率；从而将不同近红外光谱分析仪的分辨率校正至相同。本发明还公开了一种近红外光谱分析仪。本发明具有工作量小、稳健可靠、方便实用等优点，可广泛应用在近红外光谱分析中。 |
