一种多通道集成化微波元器件功率老化夹具
基本信息
申请号 | CN202020354970.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN212321666U | 公开(公告)日 | 2021-01-08 |
申请公布号 | CN212321666U | 申请公布日 | 2021-01-08 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 朱雪婷;陈庆红;陈昌禧;韩玉成 | 申请(专利权)人 | 贵州振华电子信息产业技术研究有限公司 |
代理机构 | 贵阳中工知识产权代理事务所 | 代理人 | 中国振华集团云科电子有限公司;贵州振华电子信息产业技术研究有限公司 |
地址 | 550018贵州省贵阳市新添大道北段268号附1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种多通道集成化微波元器件功率老化夹具,该夹具包括:夹具基座、横向移动机构、支架限位机构、导向支架、起拔器、弹性下压机构、压头、待测件底座电气连接端口、功率信号输入口、微带、功分器、功分器电路板、耦合器等功能部件,所述微带、待测件底座电气连接装置、功分器、耦合器及微波功率负载一体化集成在主体电路板上。所述功率老化夹具,解决了微波元器件在老化试验装置安装过程中,需要使用多条线缆对信号源、功分器、被测试器件、负载之间进行多级连接,造成整个试验装置的安装过程非常繁琐、信号传输损耗大、线间干扰大,不能可靠地、批量地完成微波元器件功率老化测试等问题。广泛应用于微波有源元器件或微波无源元器件的测试中。 |
