弧高测量方法

基本信息

申请号 CN202110270738.X 申请日 -
公开(公告)号 CN112964183B 公开(公告)日 2022-04-12
申请公布号 CN112964183B 申请公布日 2022-04-12
分类号 G01B11/06(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 李青;李赫然;何毅;展贵鑫;王娟娟;贺俊雅;李大洋 申请(专利权)人 四川中浦智慧集团有限公司
代理机构 北京润平知识产权代理有限公司 代理人 肖冰滨;王晓晓
地址 621000 四川省绵阳市经开区涪滨路北段177号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种弧高测量方法,属于弧高测量技术领域。所述方法包括:获取弧面元件在水平方向上的投影图形的最小外包矩形,其中所述弧面元件的外弧面垂直于水平平面;根据所述最小外包矩形的边长确定所述弧面元件的弧高。本发明的弧高测量方法具有运用范围广,能够对各种形状的弧面元件进行测量,且测量数据稳定,可重复性高,采用非接触的方式进行测量,避免接触力使测量物体产生形变,保证测量的精度的优点。