一种电子芯片辐照试验专用箱
基本信息
| 申请号 | CN201921970888.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211206673U | 公开（公告）日 | 2020-08-07 |
| 申请公布号 | CN211206673U | 申请公布日 | 2020-08-07 |
| 分类号 | G01R31/00 | 分类 | - |
| 发明人 | 秦贤军;顾家明;蔡锡明 | 申请（专利权）人 | 上海世龙科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在支撑架的上方固定物料板；在物料板的两侧设置角铁架；在角铁架与下方的支撑架之间固定一斜撑；在角铁架的上方设置铅板；本实用新型的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴‑60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴‑60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。 |
