一种提升热释电晶圆等离子体激活均匀性的方法
基本信息

| 申请号 | CN202011358667.0 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN112490346A | 公开(公告)日 | 2021-03-12 |
| 申请公布号 | CN112490346A | 申请公布日 | 2021-03-12 |
| 分类号 | H01L37/02(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 欧欣;陈阳;黄凯 | 申请(专利权)人 | 上海新微科技集团有限公司 |
| 代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 郝传鑫;贾允 |
| 地址 | 200050上海市长宁区长宁路865号5号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申请公开了一种提升热释电晶圆等离子体激活均匀性的方法,包括:通过多次等离子体激活法对热释电晶圆表面进行激活;所述对热释电晶圆表面进行激活的总时长为10秒至60秒,每次所述对热释电晶圆表面进行激活的时间为2秒至10秒,每相邻两次所述对热释电晶圆表面进行激活的时间间隔为2秒至10秒;所述对热释电晶圆表面进行激活的功率为25瓦至300瓦。通过多次等离子体激活法对热释电晶圆表面进行激活,并预设激活时间、时间间隔和激活功率;从而中断连续激活过程中的正反馈恶性循环,即采用多次短时间等离子体激活的方式,释放表面积累的电荷,提高等离子体激活的均匀性。 |





