紧缩场天线测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202110343262.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112834833A | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN112834833A | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01R29/10 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 卜景鹏;东君伟;马向华;梁有宁 | 申请（专利权）人 | 中山香山微波科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王牌 |
| 地址 | 528437 广东省中山市火炬开发区祥兴路6号数贸大厦南冀4层412卡 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种紧缩场天线测试系统，包括微波暗室，以及均设于所述微波暗室内的第一机械手、第二机械手、反射镜和馈源，所述反射镜设于所述第一机械手上，所述馈源设于所述第二机械手上并朝向所述反射镜设置，所述反射镜用于将所述馈源发出的出射波聚焦成平面波并将平面波反射至待测件处形成静区，所述第一机械手可带动所述反射镜移动，所述第二机械手可根据所述反射镜的移动位置带动所述馈源移动以实现平移所述静区。本发明提供的紧缩场天线测试系统中，通过第一、第二机械手分别带动反射镜和馈源移动，并结合反射镜和馈源的实时匹配对准，可实现静区的平移，从而构成多个能够相互拼接的静区，以此成倍增大静区空间，提升测试性能。 |
