首页/ 中山香山微波科技有限公司/ 专利详情

片上天线测试系统及测试方法

基本信息

申请号 CN202011322662.2 申请日 -
公开（公告）号 CN112557769A 公开（公告）日 2021-03-26
申请公布号 CN112557769A 申请公布日 2021-03-26
分类号 G01R29/10(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 卜景鹏;东君伟;苏栋材;吴嘉华 申请（专利权）人 中山香山微波科技有限公司
代理机构 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 代理人 杨龙
地址 528437广东省中山市火炬开发区祥兴路6号数贸大厦南冀4层412卡
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种片上天线测试系统及其实施的测试方法，其中，测试系统包括具有安装法兰的伺服机构、激光测距仪、测试探头及探针台，所述探针台用于放置待测天线，所述激光测距仪用于设置在伺服机构的安装法兰上被伺服机构驱动获取待测天线与激光测距仪之间的距离以供获取待测天线的本地坐标系，所述测试探头用于替换激光测距仪安装于安装法兰上对待测天线进行扫描测试。通过采用激光测距仪获取待测天线的距离，得到待测天线的精确的几何位置，进而可建立待测天线的本地坐标系及扫描坐标系，测试系统的结构及操作简单，有利于提高校准效率，降低成本。