一种激光芯片老化装置
基本信息
| 申请号 | CN202021281160.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212622929U | 公开（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申请公布号 | CN212622929U | 申请公布日 | 2021-02-26 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 颜小伟;昝国骥;李少华;邓卫华 | 申请（专利权）人 | 武汉永力睿源科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京高沃律师事务所 | 代理人 | 韩雪梅 |
| 地址 | 430205湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路19号永力产业园二楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种激光芯片老化装置，涉及芯片测试装置技术领域，主要结构包括底板、恒温水路系统和顶针机构；恒温水路系统包括水冷板，所述水冷板前侧面上部设置有限位座，所述限位座用于限定待测芯片位置，所述水冷板前侧面下部设置有多个积分球，顶针机构用于压紧待测芯片，并给芯片通电，从而实现快速装夹、整体测试，以提高测试效率，并能够通过恒温水路系统使待测芯片保持恒温，符合老化芯片的温度要求。 |
