一种三极管参数的片上检测方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN202110787235.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113466652A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113466652A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G01R31/26（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李小勇 | 申请（专利权）人 | 苏州瀚宸科技有限公司 |
| 代理机构 | 杭州创信知识产权代理有限公司 | 代理人 | 杨燕霞 |
| 地址 | 215131江苏省苏州市相城区元和街道聚茂街185号活力商务广场B幢13层1303室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种三极管参数的片上检测方法和系统，所述三极管参数的片上检测方法，包括如下步骤：步骤S1：设置带隙电流源Ic1的输出端产生带隙输出电流I；步骤S2：设置三极管Q1的集电极通过第一电阻支路连接带隙电流源Ic1的输出端；三极管Q1的基极通过第二电阻支路带隙电流源Ic1的输出端；三极管Q1的发射极接地；步骤S3：设置电压检测装置，检测带隙电流源Ic1的输出端电压，产生所述三极管电流放大倍数的检测值。本发明能够获得较为详细的电流放大倍数信息，并且电路实施简单，实现代价低。 |
