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存储器的检测方法

基本信息

申请号 CN201310317888.7 申请日 -
公开（公告）号 CN103366831B 公开（公告）日 2018-08-21
申请公布号 CN103366831B 申请公布日 2018-08-21
分类号 G11C29/56 分类 信息存储;
发明人 钱亮;任栋梁 申请（专利权）人 上海宏力半导体制造有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 上海华虹宏力半导体制造有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
法律状态 -

摘要

摘要 一种存储器的检测方法。所述存储器的检测方法包括：在所述存储器中写入预设数据；在第一测试条件下对所述存储器进行第一次读取操作，根据所述第一次读取操作的读取结果与第一阈值的比较结果获得第一读取数据；在所述第一读取数据与所述预设数据相同时，在第一测试条件下对所述存储器进行第二次读取操作，根据所述第二次读取操作的读取结果与第二阈值的比较结果获得第二读取数据；根据所述第二读取数据与所述预设数据的比较结果对所述存储器进行判定操作。本发明存储器的检测方法提高了检测结果的可靠性，避免了存储器无法正常使用的问题。