测距装置以及测距方法
基本信息
| 申请号 | CN202110176362.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113985425A | 公开（公告）日 | 2022-01-28 |
| 申请公布号 | CN113985425A | 申请公布日 | 2022-01-28 |
| 分类号 | G01S17/10（2020.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 印秉宏;王佳祥 | 申请（专利权）人 | 广州印芯半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 宋兴;臧建明 |
| 地址 | 510710广东省广州市黄埔区科学大道18号A栋11楼1103单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种测距装置以及测距方法。测距装置包括发光源、图像传感器以及处理器。发光源在不同时间投射多个投影图案至待测物的表面。图像传感器同步于所述多个投影图案的投射时间来感测待测物的表面，以取得分别对应于所述多个投影图案的多个感测图像。处理器分析所述多个感测图像，以决定待测物的深度信息。处理器执行三角函数计算来取得深度信息。 |
