测试电路和设备
基本信息
申请号 | CN202121669145.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN215932065U | 公开(公告)日 | 2022-03-01 |
申请公布号 | CN215932065U | 申请公布日 | 2022-03-01 |
分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 孙海洋;张健;耿霄雄;胡江;钟锋浩 | 申请(专利权)人 | 杭州长川科技股份有限公司 |
代理机构 | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 贺才杰 |
地址 | 310051浙江省杭州市滨江区聚才路410号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请实施例提供的测试电路和设备,其中,测试电路包括电压源和第一测试子电路,电压源的正极与第一待测IGBT器件的集电极电信号连接,电压源的负极接地;该第一待测IGBT器件连接于第一测试子电路内,第一待测IGBT器件的栅极与发射极短接;第一测试子电路包括第一电流源,第一电流源的负极与第一待测IGBT器件的发射极电信号连接,第一电流源的正极接地;如此,第一电流源指示的输出电流能够保证实际流过IGBT的电流在可接受的误差范围之内,从而解决了相关技术中实际流过IGBT的电流与测试电流不符导致的对IGBT进行BVCES参数测试精度低的问题。 |
