自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机
基本信息
| 申请号 | CN202122793657.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216064357U | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN216064357U | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | B07C5/34（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 | 申请（专利权）人 | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 杨萌 |
| 地址 | 310000浙江省杭州市滨江区聚才路410号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机。该自锁装置包括与压接执行机构连接的导向件和与载物台连接的自锁组件；压接执行机构下降至压接于载物台时，导向件随压接执行机构下降至与自锁组件锁定，导向件与自锁组件解锁后，压接执行机构能够上升。该自锁系统包括上述自锁装置。该芯片测试分选机包括上述自锁系统。本实用新型提供一种自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机，缓解现有技术中存在的芯片测试分选机中压接执行机构压接于芯片上的压接状态的保持不稳定的技术问题。 |
