一种CPU老化测试平台
基本信息
申请号 | CN202010594456.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111722082A | 公开(公告)日 | 2020-09-29 |
申请公布号 | CN111722082A | 申请公布日 | 2020-09-29 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 谢建升;韩俊;盛银 | 申请(专利权)人 | 苏州高测智能系统有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 215300江苏省昆山市玉山镇登云路268号1号房311室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种CPU老化测试平台,在机座中心固定机器人,机器人中部置有相机,机器人顶部置有机械臂,机械臂连接机械手,机座四周固定围栏,机座上部固定机柜,机座左部安装进料输送带、合格产品输出带、不合格产品输出带,上机柜、下机柜、右机柜内固定有柜体工位,柜体工位内置有治具,治具前端下部置有进出产品载盘,进出产品载盘中间置有待测产品,治具前端左部置有PID温度显示器,治具顶端左部置有散热风扇,治具顶端右部置有入风口风扇,治具中心置有上下升降的保温腔体,上下升降的保温腔体内置有温度加热丝。计算机内置有视觉算法定位软件,可以控制机械手实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化自动测试作业。 |
