芯片和芯片测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201910796124.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110554298B | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN110554298B | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G08C19/00（2006.01）I;H04L12/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘海亮;汪再金 | 申请（专利权）人 | 江苏芯盛智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 荣颖佳 |
| 地址 | 213000江苏省常州市武进区武进国家高新技术产业开发区新雅路18号528室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明的实施例提供了一种芯片和芯片测试方法，涉及芯片测试技术领域。芯片包括寄存器接口、寄存器和测试激励产生模块，寄存器通过寄存器接口与测试机台通信连接，寄存器还与测试激励产生模块通信连接；寄存器用于通过寄存器接口接收测试机台发送的操作指令，并根据操作指令向测试激励产生模块发送触发指令；测试激励产生模块用于根据触发指令产生测试信号，以使得芯片进行相应的测试；还用于得到芯片进行相应的测试产生的控制指令，将控制指令发送至寄存器；寄存器用于根据控制指令得到测试结果，并通过寄存器接口将测试结果发送至测试机台。能够简化测试机台的测试环境，提高筛片效率，且对芯片的测试引脚起到保护作用，提高芯片的良率。 |
