一种芯片检测用测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201811179315.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109375090B | 公开（公告）日 | 2019-02-22 |
| 申请公布号 | CN109375090B | 申请公布日 | 2019-02-22 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/01(2020.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请（专利权）人 | 中关村芯园（北京）有限公司 |
| 代理机构 | 北京同辉知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 饶富春 |
| 地址 | 100080北京市海淀区海淀西大街29号4层403室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片检测用测试装置，包括芯片检测台，所述芯片检测台的顶端固定安装有固定杆，所述芯片检测台的顶端固定安装有支架，所述支架的数量为两个，两个所述支架以芯片检测台的轴心为中心对称分布，两个所述支架的内部均活动连接有滚动转筒。通过芯片放置箱的内部放置有芯片，芯片经液压杆顶端的推板，使得芯片放置箱内部的芯片推至两个衔接板之间，配合传动箱内部的电动机带动转盘的旋转，转盘的外侧面固定连接有转杆与旋转盘外侧面的搭接板相接触，从而使得搭接板进行定时转动，又配合第一传动带带动输送带的旋转，从而实现输送带的定时转动，避免输送带的持续转动，对芯片的检测不够全面。 |
