一种用于硬盘芯片的检测方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202111061056.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113778770A | 公开（公告）日 | 2021-12-10 |
| 申请公布号 | CN113778770A | 申请公布日 | 2021-12-10 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李荣涛 | 申请（专利权）人 | 深圳市华宇福保半导体有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518048广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路25号利保义生物工程大楼六层B井,E井厂房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种用于硬盘芯片的检测方法及系统，其中方法包括：接收通讯板连接信号；根据连接信号，获取预设通讯板中预设的测试信息，所述测试信息包括硬盘芯片的读写传输速度测试指令、COPY速度测试指令；调用测试应用窗口，配置测试信息至测试应用窗口；接收硬盘连接信号；响应测试请求，所述测试请求用于根据测试信息对硬盘同步测试；生成测试结果并显示于测试应用窗口。本申请具有实现同步测试硬盘芯片的不同参数，提升硬盘芯片的检测效率的效果。 |
