一种滤光片表面缺陷的检验方法
基本信息
| 申请号 | CN202011530011.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112730452A | 公开（公告）日 | 2021-04-30 |
| 申请公布号 | CN112730452A | 申请公布日 | 2021-04-30 |
| 分类号 | G01N21/95;G01N21/88;G01B11/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 增田博志;贺力伟 | 申请（专利权）人 | 苏州京浜光电科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 苏州圆融专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 郭珊珊 |
| 地址 | 215500 江苏省苏州市常熟经济开发区高新技术园柳州路7号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种滤光片表面缺陷的检验方法，包括以下步骤：设定滤光片外观缺陷的检测参数；将待检测的滤光片放置在检测治具上；将滤光片处设置用于照明的光源；拍摄滤光片图像；提取滤光片外缘边缘，检测滤光片外形尺寸；如果外形尺寸合格，则将图像信息传输给图像处理及分析系统；通过图像处理及分析系统接收并处理图像信息，并判断滤光片表面是否存在缺陷。本发明，通过对外形尺处、以及表面缺陷的检测，检测范围更加广泛。 |
