一种静态8K超高清晰度测试方法及装置
基本信息
申请号 | CN202110909796.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113709449A | 公开(公告)日 | 2021-11-26 |
申请公布号 | CN113709449A | 申请公布日 | 2021-11-26 |
分类号 | H04N17/00(2006.01)I | 分类 | 电通信技术; |
发明人 | 吴蔚华;孙三;陈宇;何永刚;阮卫泓;刘志刚;韩正涛 | 申请(专利权)人 | 北京泰瑞特检测技术服务有限责任公司 |
代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 | 代理人 | 张然 |
地址 | 100015北京市朝阳区酒仙桥北路乙7号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种静态8K超高清晰度测试方法及装置,本发明通过设计得到8K超高清晰度复合测试图,然后通过对被测设备上所显示的8K超高清晰度复合测试图是像素位置的测试,从而实现对8K超高清显示系统的清晰度进行有效测试,以解决现有技术中不能实现对8K超高清显示系统的清晰度进行测试的问题。 |
