芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法、存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202210085226.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114492257A | 公开（公告）日 | 2022-05-13 |
| 申请公布号 | CN114492257A | 申请公布日 | 2022-05-13 |
| 分类号 | G06F30/33（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 马骁 | 申请（专利权）人 | 杭州云合智网技术有限公司 |
| 代理机构 | 上海洞见未来专利代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 311200浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区建设二路858号集成电路设计产业园D幢107室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法，包含如下步骤：创建随机约束的基类；将配置对象的数据成员传递到该基类中；对基类进行派生，获取若干独立的封装类；创建随机约束的类队列，各个封装类通过调用接口加入类队列；创建包含随机约束的配置对象的基类；基于配置对象的基类创建配置对象，并声明例化封装类和随机约束的类队列，调用随机约束的接口方法将需要的封装类加入随机约束的类队列，最终实现配置对象的随机约束求解。本发明能够根据项目需要，由验证开发人员通过方便地调用随机约束的开关接口方法，轻松得到目标随机约束的合法区间值，从而实现对随机约束程序块的管理控制和代码的重用，大大提升了项目开发效率。 |
